当前位置: 首页 > 中心新闻

中心与Agilent公司共同举办分子光谱应用研讨会

2017-03-29 11:08:56   浏览次数: 
分析测试中心与Agilent公司共同举办分子光谱应用研讨会


                              
        3月24日上午,应分析测试中心邀请,Agilent公司在我中心举办了一场关于红外成像系统与紫外可见分光光度计应用方面的研讨会。
        研讨会中,Agilent公司光谱产品华东区经理童永琪先生首先简要介绍了Agilent公司的分子光谱仪器。Agilent公司应用工程师蒋龙平博士详细介绍了傅立叶变换红外成像系统在多层先进复合材料解析、材料微区分析、电子产品缺陷和异物分析、药物及组织结构分析等方面的应用和优势。蒋博士还针对全能型紫外可见近红外分光光度计在新材料、光学器件、太阳能等行业的广泛应用,及样品多角度下的透过率、反射率、漫反射、漫透射率等功能的实现做了详细地介绍。研讨会后,安捷伦公司现场演示了小型化红外光谱仪的应用,并回答了各位师生应用方面的问题,得到了很好的反馈。
        测试中心相关老师和校内其他师生积极地参加了本次研讨会,针对红外成像和全能型紫外可见分光光度计的功能和应用和Agilent公司的工程师进行了深入的交流,更多地了解了分子光谱的发展方向,丰富了广大师生分子光谱方面的前沿知识。
 

Copyright @ 2016 All rights reserved. 华东理工大学分析测试中心 版权所有


地址:上海市梅陇路130号实验四楼 邮编:200237